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顆粒圖像分析儀

顆粒圖像分析儀
將傳統(tǒng)的顯微測量方法與現代的圖像技術相結合,是一種采用圖像法進行顆粒形貌分析和顆粒測量的顆粒分析儀器,由光學顯微鏡、數字CCD攝像機和顆粒圖像處理分析軟件組成。該系統(tǒng)通過專用的數字攝像機將圖像傳輸給電腦,通過專用的顆粒圖像處理分析軟件對圖像進行分析處理,具有直觀、形像、準確和測量范圍寬等特點。

  • 產品型號:WKL-702
  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2025-04-25
  • 訪  問  量:64
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產品詳情

WKL-702 顆粒圖像分析儀

產品特點

1、圖像多種處理方法:影像增強、圖像疊加、局部提取、定倍放大、對比度、亮度調節(jié)、顆粒定位、自動分割等幾十種功能。

2、具有圓度、曲線、周長、面積、直徑等幾十種幾何參數的基本測量。

3、可直接按顆粒粒徑的粒徑面積、形狀等多類參數,以線性或非線性統(tǒng)計方式繪出分布圖。

技術參數

儀器型號

WKL-702

測量范圍

0.13000(微米)

總放大倍數

8000

最大分辨率

0.1微米/像素

重復性

誤差≤±1

自動分割速度

1

數字攝像機(CCD)

500萬像素

數據儲存

電腦需另配(i5+8G內存+純固態(tài)硬盤或雙硬盤以上配置)

通信接口

USB

操作系統(tǒng)

Windows 98/XP/7/8/10/11系統(tǒng)均可

電源

AC220V ±10%,50 Hz 200 W

儀器尺寸

270mm×410mm×440mm

儀器凈重

15kg


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